·适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。 ·可配备多种不同频率，不同晶片尺寸的双晶探头使用。 ·具有探头零点校准，两点校准功能，可对系统误差进行自动修正。 ·已知厚度可以反测声速，以提高测量精度。 ·具有耦合状态提示功能。

·适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。 ·可配备多种不同频率，不同晶片尺寸的双晶探头使用。 ·具有探头零点校准，两点校准功能，可对系统误差进行自动修正。 ·已知厚度可以反测声速，以提高测量精度。 ·具有耦合状态提示功能。

一、产品简介： ·采用了磁性和涡流两种测厚方法，既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。 ·分体（传感器与仪器之间通过引线连接）、两用（F型N型合一）。 ·*的温度补偿算法。 ·具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。 ·具有统计功能：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）

适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。

适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。