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试块 NB/T47013-2015
试块 NB/T47013-2015 无损检测试块分标准试块和参考试块两类。标准试块(或校准试块)是指具有规定的化学成分、表面粗糙度、热处理及几何形状的材料块,可用以评定和校准超声波检测设备;参考试块(或对比试块)是指受检件(被检工件)或材料化学成分相似,含有意义明确的参考反射体的试块。它们用以调节超声波检测设备的幅度和/或时间分度,以将所检出的不连续信号与已知反射体产生的信号向比较。
时间:2023-05-23型号:CSK-IIIA厂商性质:生产厂家浏览量:754查看详细介绍 -
CSK-IIIA试块
试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的 入射点和前沿长度
时间:2023-05-23型号:东岳牌厂商性质:生产厂家浏览量:907查看详细介绍 -
CSK-IIIA试块
试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的 入射点和前沿长度
时间:2023-05-23型号:厂商性质:生产厂家浏览量:761查看详细介绍 -
试块(20钢)含支架
CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的 入射点和前沿长度;2利用50和1.5mm圆孔测定 斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头 声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤 仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;
时间:2023-05-23型号:CSK-IA厂商性质:生产厂家浏览量:681查看详细介绍 -
CSK-IA 试块(20钢)含支架
CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的 入射点和前沿长度;2利用50和1.5mm圆孔测定 斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头 声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤 仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;
时间:2023-05-23型号:厂商性质:生产厂家浏览量:1231查看详细介绍