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超声波试块;带报告

超声波试块;带报告

产品特点:CSK-IA超声波试块
是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2利用Φ50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况

产品型号: CSK-IA
更新时间: 2021-03-18
访问次数: 81
产品详情
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域化工,石油,建材,航天


    CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2利用Φ50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力。
 

  CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2利用Φ50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力。 CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2利用Φ50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力。 CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2利用Φ50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力。

 

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