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紫外辐照计 黑光照度计:UV-A型

点击次数:711 发布时间:2017-02-06

UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

产品特点:

* 光谱及角度特性经严格校正

* 数字液晶显示,带背光

* 手动/自动量程切换

* 数字输出接口(USB冗余供电)

* 低电量提醒

* 自动延时关机

* 有数字保持

* 轻触按键操作,蜂鸣提示

主要技术指标:

 

探头(二选其一):

UV-420nm 探头

 UV-365nm 探头

波长范围及峰值波长:

λ:(375~475)nm;λP=420nm

λ:(320~400)nm;λP=365nm

紫外带外区杂光:

UV420:小于0.02%

UV365:小于0.02%

辐照度测量范围:

(0.1~199.9×103) μW/cm2

相对示值误差:

±10%(相对与NIM标准)

角度响应特性:

±5%(α ≤10°)

线性误差:

±1%

短期不稳定性:

±1%(开机30min后)

响应时间:

1秒

使用环境:

温度(0~40)℃,湿度<85%RH

尺寸和重量:

160mm×78mm×43mm;0.2kg

电源:

常规使用6F22型9V积层电池一只
亦可使用数据线连接USB接口、5V电源适配器供电
整机功耗   <0.1VA

 

 

附录:

  

   探头光谱响应曲线

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